基于掩码分割优化的激光粉末床成形缺陷识别方法

本发明公开了一种基于掩码分割优化的激光粉末床成形缺陷识别方法，S1.利用成像设备实时采集激光粉末床成形工艺中成形区域的图像数据；S2.获得预处理图像数据；S3.基于预处理图像数据采用多尺度特征提取方法提取图像中的关键特征；S4.生成对应的缺陷区域掩码；S5.依据所生成的缺陷区域掩码对缺陷区域进行特征提取；S6.对所提取的缺陷区域特征进行分类与评估，确定缺陷的类型和严重程度，并形成缺陷识别结果。本发明通过灰度共生矩阵计算纹理特征、Canny边缘检测提取边缘特征，并结合区域形态分析综合判断缺陷类型，提高了对不同缺陷的识别精准度。