光学邻近效应校正方法、系统、电子设备及存储介质

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光学邻近效应校正方法、系统、电子设备及存储介质
申请号:CN202510299258
申请日期:2025-03-13
公开号:CN120233645A
公开日期:2025-07-01
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种光学邻近效应校正方法、系统、电子设备及存储介质。该光学邻近效应校正方法包括提供参考结构,对参考结构进行光学邻近效应校正处理,获取特征尺寸不同的多个线端图形的圆角化采集数据;根据多个特征尺寸和圆角化采集数据,构建圆角化预测模型;将目标版图的特征尺寸输入圆角化预测模型,利用圆角化预测模型生成目标版图的圆角化预测数据。该光学邻近效应校正方法能够准确地预测不同特征尺寸的目标版图在光学邻近效应校正后的圆角化程度,为OPC验证提供参考。
技术关键词
线性回归模型 光学邻近效应 版图 尺寸 校正系统 数据采集模块 线端 电子设备 处理器 可读存储介质 多晶硅 程序 指令 存储器 计算机 参数
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