一种基于图像分析的芯片定位检测方法及系统

本发明公开了一种基于图像分析的芯片定位检测方法及系统，涉及图像识别技术领域。本发明包括如下步骤：按照光照估计模型进行工位上的光线调节；采集工位上芯片的数据信息；获取芯片点云的端点中的特征角点，对特征角点进行判断识别其中的断点；断点将芯片点云分割成若干份，采用窗口化直线拟合方法提取点云线段特征；构建轻量化卷积网络，通过空洞卷积提取不同尺度的芯片轮廓与焊点特征；将提取的点云线段特征输入构建的轻量化卷积网络，通过非线性优化修正预测坐标。本发明通过频域‑空域联合增强算法、多尺度形变特征融合网络、几何先验约束的深度学习修正模型以及动态自校准系统，提升检测精度、效率与工业场景适应性。