一种芯片测试方法及相关装置

本申请公开了一种芯片测试方法及相关装置，涉及芯片测试领域，包括：主控模块获取终端发送的芯片管脚文件和测试任务列表；主控模块基于芯片管脚文件的被测芯片下载管脚导通第一下载通道，以通过第一下载通道将目标程序下载至被测芯片；主控模块从测试任务列表中确定当前测试任务，从芯片管脚文件中确定当前测试任务所需的被测芯片测试管脚，基于被测芯片测试管脚导通测试通道；主控模块向被测芯片发送当前测试任务指令，并接收当前测试任务的测试结果；其中，测试结果是在被测芯片接收到当前测试任务指令并运行与当前测试任务匹配的测试程序的过程中，通过测试通道进行测试信号采集后得到的。本申请可以提高芯片自动化测试效率。