一种基于图像分割与补全的缺陷检测方法

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一种基于图像分割与补全的缺陷检测方法
申请号:CN202410875598
申请日期:2024-07-02
公开号:CN118447015B
公开日期:2024-10-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及缺陷检测技术领域,公开了一种基于图像分割与补全的缺陷检测方法,包括:采集待检测工业品的表面图像,并将表面图像分离为三个通道;分别对三个通道的图像进行分割,得到干扰区域在三个通道下的掩膜;将三个通道下的掩膜进行融合,得到表面图像中干扰区域的掩膜;使用无缺陷的表面图像和随机生成的掩膜,对图像补全模型进行训练;将采集的工业品的表面图像和掩膜输入到完成训练的图像补全模型,对表面图像中的干扰区域进行补全;通过缺陷检测模型,对补全后的表面图像进行缺陷检测。本发明通过分割和补全的方法,有效消除工业品表面干扰因素对缺陷检测效果的影响,提高了模型对工业品表面图像复杂和特殊情况的适应能力。
技术关键词
掩膜 缺陷检测方法 图像分割 像素点 通道 节点 缺陷检测技术 解码器 广义特征值 上采样 矩阵 切片 编码器 编码块 元素 纹理
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