一种多通道导通电阻性能测试系统及方法

本申请公开了一种多通道导通电阻性能测试系统及方法，涉及电子元件性能测量技术领域，解决了现有的元件性能测试系统采用固定延迟策略进行性能测试，导致性能测试系统的检测准确度较低的技术问题；包括：测试模块：根据测试方案对元件进行性能测试；并实时获取测试温度和其对应的记录时间；采集信号生成模块：根据特性数据和测试方案生成初始延迟时长；根据初始延迟时长和实时记录的测试温度生成调整延迟时长，根据调整延迟时长生成采集信号；数据采集模块：根据采集信号通过与其相连接的数据采集设备获取测试元件的性能测试数据；性能分析模块：根据性能测试数据生成元件性能测试报告；保证了测试数据的准确性，提高了性能测试系统的检测准确度。