基于折息最小二乘参数辨识的自校正控制方法、设备及存储介质

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基于折息最小二乘参数辨识的自校正控制方法、设备及存储介质
申请号:CN202510315421
申请日期:2025-03-18
公开号:CN119846942A
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于折息最小二乘参数辨识的自校正控制方法、设备及存储介质,属于光电跟踪系统目标跟踪控制领域。所述方法使用最小二乘法对快速反射镜的二阶系统进行参数辨识,利用已辨识的参数根据极点配置的方法设计系统的PID参数,从而实现自校正PID的控制。折息最小二乘法能够更加快速稳定的辨识出系统的模型,从而能够拥有更好的控制效果。本发明对控制结构进行优化,在不增加系统硬件成本的情况下,充分应用模型信息,提升系统控制性能,延长快速反射镜的使用寿命。
技术关键词
校正控制方法 快速反射镜 参数 多项式 离散系统 光电跟踪系统 数学模型 PID控制器 闭环 处理器 二阶系统 设计系统 协方差矩阵 方程 采集系统 控制结构 系统控制 可读存储介质
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