一种电阻片缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质

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一种电阻片缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质
申请号:CN202510330981
申请日期:2025-03-20
公开号:CN119850624B
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种电阻片缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质,属于缺陷检测技术领域,该方法包括:基于第一图像的图像特征确定疑似缺陷图像和疑似无缺陷图像,第一图像为待检测的电阻片图像;对疑似缺陷图像进行第一预处理,以及对疑似无缺陷图像进行第二预处理,得到目标图像,第一预处理的处理方式与第二预处理的处理方式不同;将目标图像输入目标随机森林模型中得到缺陷检测结果;其中,目标随机森林模型的训练过程包括基于生成对抗网络生成多种类型的缺陷图像;基于各个类型的缺陷图像的生成效果值确定第一数据集;基于第一数据集对随机森林模型进行训练得到目标随机森林模型。本公开可以提升电阻片缺陷检测的准确性和可靠性。
技术关键词
生成对抗网络 随机森林模型 缺陷检测方法 电阻片 生成噪声 语义 图像拼接 多模态 缺陷检测技术 缺陷检测装置 数据 电子设备 可读存储介质 处理器 存储器 计算机 数值 模块
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