非阻塞式的PMU测量方法、装置、测试机和电子设备

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非阻塞式的PMU测量方法、装置、测试机和电子设备
申请号:CN202510333588
申请日期:2025-03-19
公开号:CN120428057A
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种非阻塞式的PMU测量方法、装置、测试机和电子设备,该方法包括:测量驱动根据获取的设置参数,创建相应的任务线程。通过任务线程基于设置参数,将PE芯片中待测通道与监测资源相连,监测资源用于PE芯片内的PMU单元搭建链路连通待测器件与ADC,以使ADC对通道信号进行采样。通过任务线程对设置参数,以及PE芯片对应连接的ADC的参数信息进行封装,生成测量任务放入任务队列中。通过任务线程根据任务队列中的测量任务,通知相应的ADC进行信号采样,并获取ADC的输出编码值存入待测通道对应的存储位置。通过测试主线程下的测量驱动执行ADC数据读取相关操作,在测量驱动进行数据测量过程中测试主线程可以继续后续的数据测量相关配置操作,减少等待时间,提高了测量效率。
技术关键词
待测通道 队列 芯片 待测器件 参数 资源 通知 测量方法 标识 信号 数据读取模块 编码 电子设备 封装模块 链路 板卡 测试机 标志位 存储器
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