一种芯片后仿验证方法、装置、设备及存储介质

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一种芯片后仿验证方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510344112
申请日期:2025-03-21
公开号:CN120124547A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片后仿验证方法、装置、设备及存储介质,涉及芯片仿真技术领域,包括:对目标芯片进行仿真验证操作,并在仿真验证操作处于芯片后仿阶段时确定验证模型需求;基于验证模型需求从预设时序模型的信号表中确定目标时序信号,并基于验证模型需求对应的验证参数和目标时序信号生成目标时序仿真验证模型;将目标时序仿真验证模型接入芯片后仿阶段对应的后仿环境,以便基于目标时序仿真验证模型对目标芯片进行后仿验证。这样一来,在芯片后仿阶段通过基于验证模型需求和预设时序模型的信号表自动生成目标时序仿真验证模型,可以在减少后端工作人员工作量的同时,加速芯片仿真进程。
技术关键词
时序 验证方法 信号 芯片验证 参数 芯片仿真技术 阶段 接口 硬件描述语言 可读存储介质 存储计算机程序 资源 协议 验证装置 拼接方式 方针 仿真模型 处理器
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