一种芯片测试用机械臂

本发明公开了一种芯片测试用机械臂，包括底板、立柱和导轨连接板，导轨连接板上转动连接有第一段臂，第一段臂转动连接有第二段臂，第二段臂转动连接有第三段臂，第三段臂转动连接有分度盘，分度盘连接有测试头固定臂，其两个侧臂均转动连接有一个测试头固定板，测试头固定臂的两个侧壁上均设有一个第一调节孔，两个第一调节孔内均插设有一个第一锁紧把手。本发明的有益效果是：该机械臂能够实现芯片测试仪的测试头在特定范围内的高度、前后、左右及任意角度调节，便于测试头对不同位置及角度的芯片测试，适用范围更加广泛，能够满足芯片手动测试需求；该机械臂的制造成本低，有利于中小型企业的使用和发展。