电路测试方法、平台、介质及终端

AITNT
正文
推荐专利
电路测试方法、平台、介质及终端
申请号:CN202510349616
申请日期:2025-03-24
公开号:CN120275802A
公开日期:2025-07-08
类型:发明专利
摘要
本公开提供电路测试方法、平台、介质及电子终端。所述电路测试方法包括:自动读取待测超导集成电路的焊盘信息;通过脚本生成器对所述焊盘信息进行处理,以自动生成测试脚本;调用计算引擎并且自动连接测试仪器;基于所述测试脚本和预设测试向量对所述待测超导集成电路进行多线程测试,以获取测试结果。通过自动读取焊盘信息、自动生成测试脚本以及对待测超导集成电路进行多线程测试,能够减少人工操作的需求,降低测试过程中的人为错误,从而提升测试流程的效率和准确性。
技术关键词
超导集成电路 电路测试方法 生成测试脚本 粒子群优化算法 多线程 测试仪器 电路测试平台 焊盘 电子终端 波形 矩阵 管理工具 生成随机 测试模块 处理器 启动器 可读存储介质 索引
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种基于AI视频的瘦身系统、方法及存储介质
图像处理模块 视频帧 瘦身方法 参数 标记
2
数据处理装置及方法、处理器和芯片
数据处理装置 指令 指示位置 多线程 标识
3
一种飞行器跟踪雷达波形与制导参数联合优化方法
跟踪雷达 联合优化方法 波形 观测噪声 协方差矩阵
4
基于典型场景生成的风光电解制氢系统双层配置优化方法
配置优化方法 电解制氢系统 能量管理 决策 动态规划方法
5
一种光学遥感卫星在轨交叉定标任务优化调度方法及设备
光学遥感卫星 优化调度方法 成像 粒子群优化算法 时间差
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号