一种用于产线的快速子阵测试方法及系统

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一种用于产线的快速子阵测试方法及系统
申请号:CN202510356646
申请日期:2025-03-25
公开号:CN120352702A
公开日期:2025-07-22
类型:发明专利
摘要
本发明涉及相控阵天线子阵生产过程中的调试测试领域,提供一种用于产线的快速子阵测试方法及系统,为产线上的若干个待测子阵天线分配唯一的标识号,对子阵天线进行发射模式测试验证子阵天线发射各个通道是否正常;变频模式测试验证各子阵天线的通道性能;数字接收测试检测子阵天线的数字通道性能以及数字波束合成的性能;通过近远场变换算法和探头修正算法计算得到指定位置的天线子阵在发射、接收、数字接收状态下的远场方位方向图和俯仰方向,评估该天线子阵的性能是否满足设计要求;完成整阵预设指标的分析,初步判定整阵性能。对每一层级的性能和存在的问题都进行了筛查和诊断,排除软硬件问题,提升后续大规模整阵测试效率,测试效率高。
技术关键词
自动化测试软件 射频子系统 配平 测试方法 信号源 探头 通道 安装平台 端口 波束合成器 相控阵天线子阵 修正算法 数据 六自由度机械臂 变换算法 脉冲工作模式 激光测距仪 指标
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