选择栅共享式分栅闪存的编程可靠性检查方法及相关设备

本发明涉及存储器技术领域，具体公开了一种选择栅共享式分栅闪存的编程可靠性检查方法及相关设备，其中，方法包括步骤：获取需要编程的字节地址信息和对应的待编程数据信息，并写入第一缓存器中；根据字节地址信息提取第一数据信息，并将第一数据信息写入第二缓存器中；根据对应于第一缓存器缓存的字节地址信息和对应的待编程数据信息对分栅存储结构进行编程处理；根据字节地址信息读取第二数据信息，并根据第一数据信息和第二数据信息的一致性进行过编程检查；该方法能准确分析出导通控制栅对应的浮栅存储结构是否出现过编程问题，以作为后续修复处理的依据或者告知用户，避免数据读取出错，提高选择栅共享式分栅闪存运行的可靠性。