一种基于Kriging模型的薄壁表面变形测量方法、设备及介质

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一种基于Kriging模型的薄壁表面变形测量方法、设备及介质
申请号:CN202510358516
申请日期:2025-03-25
公开号:CN120293075A
公开日期:2025-07-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于Kriging模型的薄壁表面变形测量方法、设备及介质,包括S1、生成初始测量点;S2、构建Kriging模型;S3、动态选择采样模式;S4、获取待测采样点;S5、实际测量获取薄壁表面的变形程度;S6、评估与迭代。通过迭代采样点的预测与选择,结合动态调整采样策略,有效减少测量点数,该方法能够克服AACMM手持测量中由于坐标偏差引起的测量误差问题。即使实际测量点位置与理论采样点位置存在偏差,该方法仍能通过Kriging模型的预测和迭代优化,准确捕捉薄壁表面的变形程度,确保测量结果的可靠性,提高了测量精度、测量效率以及方法实现的稳定性、不同工件应用的适用性和鲁棒性。
技术关键词
Kriging模型 测量点 变形测量方法 变形误差 采样点 模式 曲面 理论 克里金模型 动态 计算机 协方差矩阵 表达式 处理器通信 测量误差 指令 偏差
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