一种量子芯片版图仿真方法、装置、设备及介质

本发明公开了一种量子芯片版图仿真方法、装置、设备及介质，涉及电子设计领域，包括：创建若干个包含各待优化仿真参数的仿真参数组合，基于每个仿真参数组合中的各待优化仿真参数的初始参数值确定每个仿真参数组合的当前组合位置；基于每个仿真参数组合的当前组合位置确定每个仿真参数组合的当前个体最优位置，并基于各当前个体最优位置确定当前全局最优位置；基于当前全局最优位置和每个仿真参数组合的当前个体最优位置，对每个仿真参数组合进行迭代优化，以便从若干个迭代优化的仿真参数组合中寻找全局最优的仿真参数组合，并通过将全局最优的仿真参数组合加载至量子芯片版图设计工具中的仿真功能，以提高对量子芯片版图的仿真性能。