光电跟踪系统的内场测试装置和方法

本发明属于内场测试技术领域，尤其涉及一种光电跟踪系统的内场测试装置和方法。方法包括：S1：标定基站坐标系和机械臂基坐标系的坐标变换矩阵；S2：在当前采样时刻下，将跟踪目标的坐标投影至以基站坐标系的原点为圆心的球面，获得跟踪目标的投影点坐标；S3：基于坐标变换矩阵和当前采样时刻下的轨迹投影点计算机械臂末端的位姿控制指令；S4：设定若干个采样时刻，重复步骤S2~S3，基于跟踪目标位于各采样时刻时的轨迹投影点，获得各采样时刻下的机械臂末端的位姿控制指令，实现光电跟踪系统的内场测试。本发明利用机械臂的多自由度优势解决了传统圆周运动测试装置对运动轨迹的约束。