一种芯片电磁兼容性分析方法、装置及设备

本发明涉及数据处理的技术领域，提供了一种芯片电磁兼容性分析方法、装置及设备，包括对芯片的电磁辐射数据进行多维度采集，得到时域电磁信号数据、频域电磁信号数据以及空间电磁分布数据后，构建芯片的电磁干扰影响矩阵并进行分解，得到电磁干扰源分布信息和干扰传播路径信息后构建芯片的电磁兼容性动态演化序列并进行分析，计算芯片的电磁稳定性参数和电磁敏感度参数；利用芯片的电磁稳定性参数和电磁敏感度参数对电磁干扰影响矩阵进行分析，基于分析结果生成电磁兼容性评估结果。通过上述方案，改善无法全面捕捉不同电磁信号与芯片内部组件之间的复杂交互，进而导致测试结果与实际操作环境中的性能存在差异，出现引发干扰和操作失败的问题。