光刻胶光酸浓度分布确定方法

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光刻胶光酸浓度分布确定方法
申请号:CN202510370471
申请日期:2025-03-26
公开号:CN120375964A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种光刻胶光酸浓度分布确定方法,涉及半导体光刻技术领域。该方法包括:获取光刻胶中光酸的初始纵向浓度分布数据;根据光酸浓度函数和光刻胶的扩散系数,构建光酸纵向扩散模型;根据初始纵向浓度分布数据,对光酸纵向扩散模型进行时域差分离散化处理,求解得到不同时刻下、光刻胶中的光酸纵向浓度分布数据。本方法,利用光刻胶中光酸的初始纵向浓度分布作为初始条件,对该光酸纵向扩散模型进行时域差分离散化处理,可高效求解不同时刻下光酸纵向浓度分布,能够快速且准确地预测光酸在光刻胶中的纵向扩散过程。
技术关键词
光刻胶 计算机程序指令 半导体光刻技术 数据 计算机程序产品 电子设备 可读存储介质 采样点 处理器 数学模型 周期性 光照 存储器 效应 数值 关系
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