一种基于DFT取样点偏移的非同步ADC伪同步采样方法

本发明提供一种基于DFT取样点偏移的非同步ADC伪同步采样方法，基于离散傅立叶算法实现，包括：步骤(1)：基于非同步ADC的通道切换和转换的时间延时而导致相位差的DFT取样点偏移。得到同一ADC内任意通道的经过DFT取样点偏移后的DFT系数；步骤(2)：基于不同ADC芯片之间的非同步采样而引起的相位差的DFT取样点偏移；将AD通道间和不同ADC间的相位差引起的取样点偏移进行叠加，得到继电保护装置任意AD通道的经过DFT取样点偏移后的DFT系数，本发明通过利用DFT的频谱特性，对非同步采样信号进行取样点偏移补偿，从而实现伪同步采样，提高信号重构精度和频谱分析准确性。