基于VMD-EWT-LSTM的中短期线损率预测方法、系统、电子设备及介质

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基于VMD-EWT-LSTM的中短期线损率预测方法、系统、电子设备及介质
申请号:CN202510378328
申请日期:2025-03-28
公开号:CN120373526A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于VMD‑EWT‑LSTM的中短期线损率预测方法、系统、电子设备及介质,该方法包括如下步骤:收集目标区域历史供电量数据、历史售电量数据,分别用GDij、SDij表示;基于收集的目标区域历史供电量数据构建未来时刻目标区域供电量预测模型;基于收集的目标区域历史售电量数据构建未来时刻目标区域售电量预测模型;基于未来时刻目标区域供电量预测模型预测未来时刻目标区域供电量,基于未来时刻目标区域售电量预测模型预测未来时刻目标区域未来时刻目标区域,基于预测的未来时刻目标区域供电量及售电量计算未来阶段目标区域线损率。本发明用供、售电量预测结果计算间接得到“未来态”线损率预测结果,进一步提升了模型的预测精度。
技术关键词
售电量预测 序列 数据收集模块 LSTM模型 电子设备 可读存储介质 阶段 处理器 预测系统 包络 频率 标签 存储器 计算机 滤波器 表达式 日期
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