用于检测内存芯片特性的方法和装置、电子设备

本发明公开了用于检测内存芯片特性的方法和装置、电子设备。该方法包括：由主控单元将具有低电平的预设数据写入内存芯片中，内存芯片的与数据队列信号相关联的片内终结电阻值被设置为第一预设值，主控单元的与数据队列信号相关联的驱动强度阻值被设置为第二预设值，第二预设值大于第一预设值；将具有第三预设值的采样电平提供给内存芯片；从内存芯片读取数据，并将读取到的数据与预设数据进行比较以得到比较结果，基于比较结果确定内存芯片是否具有片内终结电阻特性。本发明利用内存芯片单端上拉ODT终端的工作原理，只需根据比较结果即可确定内存芯片是否支持片内终结电阻特性，从而降低了检测内存芯片是否支持ODT特性的成本和复杂度。