一种面向真空包装过程缺陷的视觉检测方法

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一种面向真空包装过程缺陷的视觉检测方法
申请号:CN202510399232
申请日期:2025-04-01
公开号:CN120563396A
公开日期:2025-08-29
类型:发明专利
摘要
本发明涉及数字图像处理技术领域,尤其是提供了一种面向真空包装过程缺陷的视觉检测方法。该方法包括根据真空包装图像计算出所需的缺陷颜色区间;上料机上料,通过白色传送带运送真空包装地瓜干,将其逐一通过光敏传感器后传送带停止运行,根据彩色相机第一次采集的图像,进行黑点缺陷检测;将未检测出黑点缺陷的地瓜干传动到黑色传送带上,将其逐一通过光敏传感器后传送带停止运行,根据彩色相机第二次采集的图像,进行地瓜压入真空包装压边区域缺陷检测;进行真空包装压边区域封闭不严缺陷检测,若未检测出缺陷,则被传送传动到合格品箱里;该方法降低了人力消耗,提高了检测效率和准确性。
技术关键词
黑点缺陷 光敏传感器 检测出缺陷 传送带 视觉检测方法 边缘检测算子 相机 封闭轮廓 上料机上料 缺陷轮廓 黑色 数字图像处理技术 颜色 机械臂 透明包装 椒盐噪声 背景布
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