多工位晶棒质检设备、系统及质检方法

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多工位晶棒质检设备、系统及质检方法
申请号:CN202510402583
申请日期:2025-04-01
公开号:CN120023117A
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本申请公开一种多工位晶棒质检设备、系统及质检方法,多工位晶棒质检设备包括:基座,包括质检台和邻接于质检台的移送台;晶棒录入装置,设置于质检台的上料区位,用于读取待质检的贴附有标签的晶棒的标签信息;第一质检装置,设置于质检台的第一质检区位,用于对晶棒进行第一质检作业;第二质检装置,设置于质检台的第二质检区位,用于对晶棒进行第二质检作业;缺陷标记装置,设置于质检台的下料区位,用于基于缺陷标记指令对所述晶棒进行缺陷标记;晶棒转运装置,设置于移送台上,用于将晶棒在上料区位、第一质检区位、第二质检区位、以及下料区位之间转换。
技术关键词
质检设备 质检装置 晶棒转运装置 投影测量仪 缺陷标记装置 质检系统 录入装置 质检方法 运载机构 图像摄取机构 下料机器人 多工位 上料机器人 标签 喷码机构 下料设备 上料设备 内部缺陷检测装置
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