一种基于像素重定位的超分辨荧光寿命显微成像方法及系统

本发明涉及一种基于像素重定位的超分辨荧光寿命显微成像方法及系统，包括以下步骤：S1、使用声光偏转器对样品进行多焦点并行扫描；S2、通过面阵探测器和点探测器同步采集荧光强度图像及荧光寿命数据；S3、基于像素重定位算法对荧光强度图像进行超分辨重构，并将荧光寿命数据映射至重构图像中，生成超分辨荧光寿命显微图像，本发明采用AOD代替传统TCSPC‑FLIM成像系统中的扫描振镜作为光束扫描器，结合精心设计的多路同步信号将AOD的寻址扫描、EMCCD的图像采集以及PMT和和TCSPC卡的寿命数据采集紧密联系起来，并通过后期的数据处理方法将荧光寿命数据分配给各个点阵，从而无需复杂的设备即可实现超分辨和FLIM的有机结合，获得样品的SR‑FLIM图像。