具有工艺角检测功能的检测电路、模块、芯片、检测方法

本发明涉及一种具有工艺角检测功能的检测电路、模块、芯片、检测方法。具有工艺角检测功能的检测电路，其用于检测芯片的工艺角，其包括晶体管部和比较器部；晶体管部包括：4组串联耦合在电源端VDD和接地端VSS之间的NMOS管N1～N4和电流源I1、I3、I5、I7；4组串联耦合在电源端VDD和接地端VSS之间的PMOS管P1～P4和电流源I2、I4、I6、I8；比较器部包括4个比较器COMP1～COMP4。本发明通过比较器部的输出结果来表征待测电路或芯片的工艺角类型，能够实现五种工艺角的全面检测，从而基于得到的工艺角信息为该芯片中的功能电路提供工作电压时，能够提高自适应电压调整的速率和准确性，降低该芯片的功耗，提升芯片的整体性能。