一种追溯EML COC和EML TO测试数据的方法及系统

本发明公开了一种追溯EML COC和EML TO测试数据的方法及系统，包括：S1，通过COC测试设备与图像识别设备，得到COC测试数据与COC标识信息；S2，通过高精度打标设备在TO封装底座的侧面表面进行二次旋转打标，得到TO标识信息与二维信息码；S3，将所述COC标识信息与所述TO标识信息进行绑定；将装载有EML COC封装的TO封装底座与TO封装帽进行TO封装，得到EML TO封装；S4，通过TO测试设备对所述EML TO封装进行测试，得到TO测试数据，通过所述二维信息码追溯所述COC测试数据与所述TO测试数据。本发明实施例中的技术方案，能够对EML光芯片全生命周期数据进行精准追溯。