数据处理方法、装置、测试设备及存储介质

本申请涉及一种数据处理方法、装置、测试设备及存储介质，该方法包括：采集包括基本参数数据和基本参数数据对应的光谱参数数据的目标芯片的初始光谱数据，确定光谱参数数据中的最大值得到目标芯片的光谱参数最大值，根据目标芯片的光谱参数最大值，确定目标芯片的光谱参数基准值，目标芯片的光谱参数基准值位于目标芯片的光谱参数最大值与光谱参数最小值之间，根据目标芯片的光谱参数基准值和基本参数数据确定基本参数范围，根据基本参数范围从初始光谱数据选取基本参数数据以及对应的光谱参数数据，得到目标芯片的目标光谱数据。采用本方法能够可以保证选取的光谱数据为采集的光谱数据的部分数据，可以减少光谱数据的数据量。