芯片信息验证方法、装置、设备、介质及程序产品

本公开提供了芯片信息验证方法、装置、电子设备、存储介质以及程序产品，涉及芯片技术领域，尤其涉及芯片设计技术领域以及形式验证技术领域。具体实现方案为：对芯片的设计信息和信号的约束信息进行信息匹配，得到用于执行验证任务的待验证信息，其中，待验证信息包括用于传输信号的信号路径的属性信息和信号的时序约束信息；基于验证任务的任务类型信息，对待验证信息进行简化处理，得到简化信息；以及在简化信息中的时序约束信息为约束条件的情况下，基于简化信息中的信号路径的属性信息，对信号路径进行形式验证，得到验证结果。