摘要
本申请公开了一种量子比特读取轨迹的聚类分析方法及单触发读取方法,涉及量子计算技术领域,包括将量子比特置于不同的量子态时,多次采集读取谐振腔在预设时长内的出射信号,并根据各出射信号分别建立对应的量子比特读取轨迹,在对量子比特读取轨迹进行聚类分析后得到多个量子比特模板轨迹,一种量子态对应有一个或多个量子比特模板轨迹,其中包含有读取谐振腔的出射信号受到外界影响时产生的异常轨迹,因此在后续对量子算法的量子态进行测量时,即使读取谐振腔的出射信号受到外在因素的影响,也能从多个量子比特模板轨迹中确定一个与待识别量子比特读取轨迹相似的轨迹,从而确定量子算法的量子态,提高了量子比特的读取保真度。
技术关键词
聚类分析方法
量子态
轨迹
谐振腔
读取方法
数据
标签
量子芯片
模板
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微波
量子计算技术
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标注方法
特征点
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