芯片数据获取方法、系统及存储介质

本发明涉及数据采集技术领域，尤其涉及芯片数据获取方法、系统及存储介质。所述方法包括以下步骤：利用智能传感器实时采集芯片的工作参数，并记录芯片初始性能数据；根据初始性能数据，使用数据分析软件建立芯片工作状态的初始测试数据集；基于初始测试数据集进行数据清洗，并将初始测试预处理数据进行芯片关键特征向量提取，得到芯片数据特征数据集；因此，本发明通过动态调整数据采集策略与增强传感器配置，解决了传统数据采集不精准、冗余数据处理不当的问题，提高了芯片性能诊断的准确性和生产效率。