一种基于子区波前校正的单帧散斑偏折测量方法

一种基于子区波前校正的单帧散斑偏折测量方法，属于光学测量技术领域，包括：基于单目偏折测量系统，由屏幕向待测镜面投射标准散斑图像，并采集待测镜面反射的单帧变形散斑图像；利用基于标记点的Zernike多项式投影畸变校正方法处理反射图像，校正非正交光路导致的反射图像投影畸变；基于子区域波前拟合校正与迭代配准算法，获取反射图像与标准图像的亚像素点映射；基于系统标定及相机标定，建立空间入、反射光线模型，获得待测镜面表面梯度分布，并重建待测镜面三维形貌。本发明无需参考平面，能够实现仅采集单帧图像的高反光表面面形测量，并且通过子区波前校正提高了散斑偏折测量的动态范围及精度，表面重建精度可达百纳米。