一种芯片验证测试用随机激励生成方法、系统和设备

本申请公开了一种芯片验证测试用随机激励生成方法、系统和设备，涉及芯片验证技术领域，所述方法包括：根据待测芯片验证测试用例所需激励的约束条件，确定激励中所有变元的优先级；检测所述约束条件中是否存在不等式约束，如果存在则将不等式约束等价替换成统一表示形式后执行后续步骤，否则直接执行后续步骤；基于变元的优先级，对所述约束条件中每一变元的所有相关约束求交集，将每一变元的所有相关约束转换为一个范围约束，由此生成优化后的约束条件；基于优化后的约束条件，按照变元的优先级从高到低逐次随机，从而得到所述待测芯片验证测试用例所需的随机激励。