一种光通信芯片测试设备及方法

本发明涉及光通信芯片测试技术领域，并且公开了一种光通信芯片测试设备及方法，包括搬运模组、载具模组和测试模组，各模组又分别包括对应的模块和机构，待测芯片通过搬运模组从所述供料模块转运至所述测试载台上完成多项测试后，再通过所述搬运模组将芯片从测试载台转运至所述存储模块分类存储；本发明将芯片的相干测试项目集中在一台设备上进行，并通过各模组和模块之间的配合协作，实现芯片的上料、测试及下料分类存储的自动操作，不仅能避免人工操作因素影响芯片测试的合格率，而且极大提高了整体生产效率，降低生产成本，同时提高了分类存储的效率，无需等多个设备测试完才能整理数据分类。