一种基于激光辐照预测光学元件损伤演化的方法

本发明涉及光学元件技术领域，尤其涉及一种基于激光辐照预测光学元件损伤演化的方法，首先获取光学元件的物理参数（氧硅比、透射率、吸收系数）和激光辐照参数（波长、能量密度、重复频率），接着，建立多环境损伤预测模型，映射环境参数与损伤阈值关系；构建氧硅比‑透射率‑损伤阈值关联模型，分析物理参数随激光发次演化；建立热－光－力多物理场耦合模型，探究损伤机制，最终，通过这些模型预测不同发次激光辐照后光学元件的损伤阈值演化，得出损伤阈值变化趋势曲线和临界损伤点，建立了基于物理参数的损伤预测模型，实现了对光学元件损伤演化的提前预测，减少了实验周期，提高了评估效率。