触控检测电路、方法、芯片及设备

本申请提供一种触控检测电路、方法、芯片及设备。触控检测电路电连接于触控电极，触控电极与地之间形成寄生电容。触控检测电路包括：电容中和电路、放大电路及参考电压生成电路。电容中和电路与放大电路配合在扫描周期内的第二阶段，多次中和寄生电容的电荷。在扫描周期内的第三阶段，运算放大器根据寄生电容中和后的电荷及参考电压电路提供的参考电压，得到电荷变化量信息，电荷变化量信息的变化量用于指示触控电极的触控信息。由此，本申请提供的触控检测电路、方法、芯片及触控设备，可以减少触控芯片、触控设备的制造成本。