一种内存颗粒多维测试方法及系统

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一种内存颗粒多维测试方法及系统
申请号:CN202510450632
申请日期:2025-04-11
公开号:CN120072023B
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种内存颗粒多维测试方法及系统,涉及内存颗粒测试技术领域,包括,安装多个待测内存颗粒形成多Rank组合,并通过设置交错映射模式模拟实际使用中的高负载环境;利用光子晶体传感器进行非接触式光波信号完整性测试,输出光波信号完整性数据;基于多Rank组合的机械性能数据和光波信号完整性数据,利用故障预测模型对潜在故障进行预测;基于故障预测模型的故障预测结果,结合线性地址和物理地址的转换,定位故障内存颗粒单元;本发明通过结合机械性能数据和光波信号完整性数据,利用故障预测模型实现潜在故障的智能分析和预警,提升了内存颗粒的稳定性和可靠性。
技术关键词
故障预测模型 光子晶体传感器 SAW传感器 自动化测试设备 定位故障内存 测试方法 信号完整性测试 数据模块 颗粒测试技术 线性 非接触式 控制信号发生器 应力 组合模块 标签 信号传输方式 自动贴片机
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