一种基于深度学习的芯片可视化设计缺陷检测方法与系统

本发明涉及图像数据处理技术领域，提供了一种基于深度学习的芯片可视化设计缺陷检测方法及系统，其中，一种基于深度学习的芯片可视化设计缺陷检测方法包括：构建专用搜索空间和硬件性能评估模型；实施可微分结构搜索优化网络结构；实施混合精度量化优化模型存储和计算效率；执行多目标联合优化同时优化网络结构和位宽配置；应用知识蒸馏技术保持高检测精度。本发明通过联合优化网络结构和精度配置，检测速度显著提升，满足芯片生产线实时检测的需求；模型大小大幅减少，极大节省了存储空间和传输带宽，降低了对硬件资源的需求，降低了硬件成本，使用较低配置设备也能实现高效检测，提高了方法的普适性和经济性。