缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备

本申请公开了一种缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备，涉及人工智能技术领域，其中方法包括：首先将待检测零部件的目标图像输入到特征匹配模型中，获得目标图像中可能存在缺陷的区域位置；再通过计算该可能存在缺陷的区域位置对应的结构复杂度，生成表征复杂度矩阵；然后将目标图像、该可能存在缺陷的区域位置和表征复杂度矩阵输入到缺陷识别模型中，获得待检测零部件对应的缺陷识别结果。通过应用本申请的技术方案，能够快速适应复杂零部件特性，高效识别并分类各种缺陷，包括未知缺陷类型的识别等，对于提高生产效率、降低成本以及确保产品质量具有至关重要的意义。