基于改进YOLOV8网络的芯片表面缺陷检测方法

本发明公开了基于改进YOLOV8网络的芯片表面缺陷检测方法，包括：对YOLOv8n模型进行改进，得到改进后的模型；改进方法包括：使用C2f_RVB模块替换C2f模块；在空间金字塔池化之后引入SimAM注意力机制；使用动态任务检测头替换检测头；收集芯片表面缺陷图像并对改进后的模型进行训练；将待检测的芯片表面图像输入训练后的模型，进行缺陷检测，本方法在芯片表面缺陷的检测精度方面和其他模型相比具有显著优势，不仅提高了检测精度，还在计算资源消耗和实时性之间取得了良好的平衡，为芯片表面缺陷检测任务提供了一种新的技术路径。