一种基于多阈值分割与密度聚类的缺陷检测方法及系统

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一种基于多阈值分割与密度聚类的缺陷检测方法及系统
申请号:CN202510462573
申请日期:2025-04-14
公开号:CN120374556A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于多阈值分割与密度聚类的缺陷检测方法及系统,包括:采集原始图像,对原始图像进行预处理,得到产品图像;构建语义分割模型,将产品图像输入语义分割模型,所述缺陷包括若干类别,所述语义分割模型根据缺陷类别对产品图像进行阈值分割,得到掩膜图像;根据缺陷类别,对所述掩膜图像进行像素聚类,得到聚类结果;根据聚类结果生成缺陷检测结果。通过构建语义分割模型,对采集得到的图像根据缺陷类型进行语义分割,并根据不同缺陷类别进行聚类从而得到每种缺陷的轮廓,并将缺陷轮廓与原始图像合成得到检测结果,根据不同类别缺陷进行阈值分割,在保证检测准确率的同时提高了检测效率。
技术关键词
语义分割模型 缺陷类别 缺陷检测方法 缺陷轮廓 多阈值 聚类 像素 掩膜 密度 缺陷检测系统 图像处理模块 通道 图像缩放 尺寸 分辨率 邻域 矩阵
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