加工校正方法、设备及存储介质

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加工校正方法、设备及存储介质
申请号:CN202510464954
申请日期:2025-04-15
公开号:CN119991666B
公开日期:2025-07-01
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种加工校正方法、设备及存储介质,涉及图像处理技术领域。上述方法通过识别待加工材料图像中的特征点,根据特征点的形状特征确定特征匹配图像和特征匹配算法;根据特征匹配算法,确定待加工材料图像中的特征点与特征匹配图像中的特征点的相似度,并根据相似度在待加工材料图像中确定目标特征点;当目标特征点的数量大于或等于预设数量阈值时,根据目标特征点的像素坐标与特征匹配图像中特征点的标定坐标,确定补偿参数;根据补偿参数,校准切割路径。该方法考虑特征点的形状特征和复杂度,动态确定特征匹配算法和数量阈值,从而在材料可能发生形变的情况下,根据材料特性和加工需求调整校正精度,增强了加工校正的灵活性。
技术关键词
校正方法 特征匹配算法 坐标 特征点 轮廓特征 参数 复杂度 像素 校准 差值算法 相机 校正设备 图像处理技术 上料设备 处理器 可读存储介质 存储器 视野
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