一种老化测试夹具及老化测试系统

本发明提供了一种老化测试夹具及老化测试系统，涉及芯片测试技术领域。本发明中母抽屉插接在测试箱体内，母抽屉的第一PCB板与测试箱体内的驱动板装置连接，第二PCB板与第一PCB板连接，且与探针板连接。子抽屉包括安装板，安装板上设有用于放置被测芯片的至少一个安装位。第二PCB板设置成在作用力下相对于第一PCB板浮动，从而带动探针板上的测试探针与被测芯片接触。上述技术方案相当于将现有技术中的整体抽屉拆分成母抽屉和子抽屉，母抽屉可以一直插接在测试箱体内，不需要流转，只需要对子抽屉进行流转，减小了流转过程中的所占空间，且重量较轻。另外，在流转时不需要像现有技术中将PCB板和探针板拆卸，可以直接替换被测芯片，从而提高了测试效率。