一种离轴角精密测量方法

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一种离轴角精密测量方法
申请号:CN202510469943
申请日期:2025-04-15
公开号:CN120313876A
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种离轴角精密测量方法,涉及光学测量技术领域,解决了现有技术中机械接触式测量法易划伤镜面、分辨率低,光学干涉法依赖昂贵元件且易受环境干扰,自准直仪转台法测量范围受限,以及激光跟踪仪多点标定法设备成本高、数据处理复杂等技术问题。其技术方案为:将光电经纬仪、离轴镜及激光干涉仪同轴安装,通过光电经纬仪建立基准坐标系,借助六维调节平台确保激光干涉仪的光束始终入射于离轴镜中心,构建检测光路,通过光电经纬仪二次测量标定点的空间坐标,结合空间坐标变换算法解算出离轴角度值;本申请测量精度高、避免镜面损伤、环境适应性强、测量范围大及自动化程度高等优势,适用于光学系统制造和调试中的离轴角精密测量需求。
技术关键词
精密测量方法 光电经纬仪 激光干涉仪 调节平台 镜面法线 建立基准坐标系 接触式测量法 光学干涉法 球面反射镜 激光跟踪仪 面形误差 自准直仪 变换算法 标记 分辨率 标定法 光学系统
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