一种系统级芯片的寄存器验证方法及相关设备

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一种系统级芯片的寄存器验证方法及相关设备
申请号:CN202510473647
申请日期:2025-04-16
公开号:CN120371618A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种系统级芯片的寄存器验证方法及相关设备,涉及芯片验证领域。该方法包括:获取待测系统级芯片的原始寄存器表单。其中,原始寄存器表单包含待测系统级芯片中所有寄存器的配置参数。解析原始寄存器表单以生成第一寄存器测试表单,并根据第一寄存器测试表单生成用于对待测系统级芯片中所有寄存器进行验证的系统级验证用例。将系统级验证用例导入待测系统级芯片中的中央处理器,以使中央处理器根据系统级验证用例遍历待测系统级芯片中的所有寄存器并进行验证。本发明提供的系统级芯片的寄存器验证方法不仅能提高系统级芯片的寄存器验证效率,还能提高验证完备性,防止错误遗漏。
技术关键词
系统级验证 系统级芯片 表单 待测系统 验证方法 中央处理器 验证装置 上存储计算机程序 参数 数据 芯片验证 模板 格式 存储器 电子设备 模块 信号
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