一种基于X射线衍射法的残余应力测定新型定峰方法

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一种基于X射线衍射法的残余应力测定新型定峰方法
申请号:CN202510485590
申请日期:2025-04-17
公开号:CN120385447A
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于X射线衍射法的残余应力测定新型定峰方法,属于金属残余应力无损检测领域。针对现有XRD残余应力定峰方法适应性差、精度不高等问题。本发明提出了一种X射线衍射法的残余应力测定新型定峰方法,包括以下步骤:首先构建高斯‑洛伦兹混合模型,用以高度拟合X射线衍射曲线;然后采用粒子群优化算法求解最优模型参数;最后对残余应力计算结果进行可靠性验证。本发明构建了一种高斯‑洛伦兹混合模型,能够精确描述衍射峰的复杂形状,显著提高测量精度,在此基础上,再结合粒子群优化算法能够快速求解模型参数,具有全局搜索能力强、收敛速度快的特点,并且本方法适用于不同材料和实验条件,具有广泛的适用性。
技术关键词
粒子群优化算法 残余应力值 应力无损检测 参数 粒子群算法 强度 曲线 因子 精度 速度 软件 噪声 误差 数据
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