基于幅度与偏共振频率调制的磁共振CEST成像预饱和方法及设备

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基于幅度与偏共振频率调制的磁共振CEST成像预饱和方法及设备
申请号:CN202510493692
申请日期:2025-04-18
公开号:CN120352820A
公开日期:2025-07-22
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于幅度与偏共振频率调制的磁共振CEST成像预饱和方法及设备,属于磁共振成像领域。该方法利用Bloch‑McConnell数学仿真模型,将CEST预饱和子脉冲的幅值与偏共振频率参数作为可调参数进行非线性优化,以最小化CEST效应值在经历射频场强度不均匀时的变异程度,从而降低CEST成像受射频场不均匀性的影响。本发明无需依赖于额外的硬件设备及射频场匀场流程,无需采集额外的数据进行后处理校正,在保证了实施便捷的同时不会增加额外的采集时间。
技术关键词
共振频率 参数优化方法 射频场 饱和方法 脉冲调制 磁共振扫描器 仿真模型 代表 感兴趣 计算机电子设备 磁共振成像设备 效应 序列二次规划 强度 非线性
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