一种可快速锁紧的双面芯片测试夹具

本发明涉及一种芯片测试夹具，具体涉及一种可快速锁紧的双面芯片测试夹具，包括上壳体、下壳体，所述上壳体的顶部螺纹连接螺柱，上壳体内设有与螺柱底端转动连接的压板，压板的底部通过压力弹簧与上射频安装板顶面连接，上射频安装板、上共地测试板滑动穿设压紧件，上共地测试板的下部设有芯片安装区域I；下壳体顶部设有芯片限位框，芯片限位框的上部设有芯片安装区域II，芯片限位框的下方依次设置下共地测试板、测试板，测试板上设有散热片；射频接触件的尾部通过射频电缆组件与射频接口连接。本发明设计一种能够限制最大下压行程的芯片锁紧结构，应用于双面芯片测试夹具中，避免损坏芯片。