一种磁性元件的磁芯损耗预测方法及装置

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一种磁性元件的磁芯损耗预测方法及装置
申请号:CN202510501068
申请日期:2025-04-21
公开号:CN120493200A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种磁性元件的磁芯损耗预测方法及装置,该方法包括获取了不同磁芯材料的历史数据集,从而可以考虑温度对磁芯损耗的影响,根据历史数据集对预设斯坦麦茨方程进行温度修正,得到目标斯坦麦茨方程,从而可以通过目标斯坦麦茨方程对历史数据集中的磁芯材料进行损耗预测,得到了增加温度因素的预测值的更新数据集;进一步的,可以考虑磁通密度数据和频率对磁芯损耗的影响,根据磁芯材料、磁通密度数据和频率对更新数据集进行合并,得到合并数据集,进而可以通过合并数据集对预设预测模型进行训练,增加了预设预测模型对磁通密度数据和频率的训练,使目标预测模型对磁性元件的预测磁芯损耗更加符合实际情况。
技术关键词
磁芯材料 磁性元件 损耗 方程 磁通 训练集 密度 频率 遗传算法 线性回归模型 波形 样本 模型训练模块 正弦波 数据获取模块 预测装置 编码 插值法
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