一种芯片随机测试方法、装置、设备及存储介质

本发明公开了一种芯片随机测试方法、装置、设备及存储介质，包括：获取待测芯片对应的架构描述文档，分析待测芯片中各子模块的特性信息以及各子模块之间的交互关系；确定各子模块对应的约束条件，并根据约束条件确定各子模块对应的多个测试场景；在顶层验证环境中对各子模块对应的约束条件进行集成，根据集成结果在多个测试场景中确定各子模块对应的目标测试场景；根据架构描述文档确定待测芯片对应的多个随机测试场景，根据目标测试场景与随机测试场景，生成待测芯片对应的多个随机测试用例。本发明实施例的技术方案可以显著提高芯片的随机测试效率以及测试结果的准确性，减少对仿真资源的需求，提升芯片测试过程的完整性和可靠性。